品質保証
コアスタッフ株式会社が販売する製品は、当社市場在庫専門検査機関「解析センター」にて高いレベルの品質基準を満たした製品だけです。
正規ルート以外の市場から調達する製品には、「偽造品」や「経年変化」のリスクがあります。
コアスタッフでは、透過型X線、蛍光X線、マイクロスコープをはじめとして、IV特性検査まで対応可能なカーブトレイサも保有しています。
また、ICのパッケージ開封装置も保有しているため、内部のチップ検査も自社で行うことが可能です。
コアスタッフ オンラインよりご購入頂いたすべての製品には、1年間の保証期間を付与します。
- コアスタッフ オンラインからご購入頂いた製品は、運営会社であるコアスタッフ株式会社が品質保証を行います。
- 万が一、ご購入いただいた製品に不具合が発生した場合、交換部品の手配、または返金処理をいたします。
ご希望のお客様には無償で 対象製品の「不具合解析」を行い*、レポートを提出いたします。
詳細は営業担当へご相談ください。
- この場合の解析内容は、①外観検査、②X線検査、③I-V検査、④開封検査の4項目を実施いたします。
ただし、製品種類によっては解析を行うことができない場合がございますため、その場合は交換部品の手配または返金のみ対応、
もしくは別の方法による不具合解析(有償)のご提案とさせていただきます。 - メーカーで出荷履歴の確認が取れないという理由だけでは 返品はお受けできませんので、御了承ください。
- 不具合発生時には、どのような現象・症状が発生しているか詳細をメールもしくは書面にてご連絡ください。
メーカーで出荷履歴の確認が取れないという理由だけでは返品はお受けできませんので、ご了承ください。
- 解析の結果、製品に異常がない場合やお客様の使用環境が原因による故障の場合は解析に関わる費用を請求させていただく場合が
ございます。良品、不良品の切り分けを確実に行ったうえでご依頼くださいますよう、お願いいたします。 - 一部返品対象外のものもございます。
- 仕入先ランクC-1・C-2は、良品サンプルを提供可能かつ外部検査機関の検査合格の場合は365日、良品サンプルがない場合や外部検査機関の検査をしない場合は仕入先保証期間に準じます。
- 本保証はエンドユーザー様への保証内容です。同業の会社様へは自社在庫のみ1年間の保証、その他の仕入在庫については1ヶ月間の保証期間となり不具合解析には対応しておりません。
- 保証内容は製品代金が上限となります。
コアスタッフ株式会社にて自社保有の検査機器
マイクロスコープ
透過型X線検査装置
リール対応
透過型X線検査装置カーブトレイサ
恒温槽
蛍光X線
IC開封機
LCRメータ
半田槽
電子天秤
質量分析計
リフロー装置
仕入先ランクと検査内容
仕入先
|
詳細 | 目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
---|---|---|---|---|---|---|
A-1
|
正規代理店、2次店もしくは「ひとつから」在庫。 メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が可能(メーカー事情により対応不可の場合あり) |
○ | * | * | * | * |
A-1
|
海外の正規代理店。メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が可能だが、メーカーにより一部対応不可の場合がある | ○ | * | * | * | * |
A-2 |
正規代理店か2次店。 メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が不可 |
○ | * | * | * | * |
A-3 |
セットメーカーの倉庫にある、正規ルートで購入した余剰在庫。 コアスタッフにて品質保証。 万が一の不具合の場合、当社費用負担で提携検査機関にて不具合の解析を実施 |
○ | △ | △ | * | * |
A-4 |
コアスタッフ在庫。 代理店やセットメーカーから購入した余剰在庫 コアスタッフにて品質保証 万が一の不具合の場合、当社費用負担で提携検査機関にて不具合の解析を実施 |
○ | * | * | * | * |
B-1 |
正規代理店ではない自社在庫の仕入先。 規定の取引実績がある認定仕入先 |
○ | △ | △ | * | * |
B-2 |
在庫情報を持つ仕入先。 既定の取引実績がある認定仕入先 |
○ | △ | △ | * | * |
C-1 |
自社在庫の仕入先。 取引実績がないか、規定の取引回数に満たない |
○ | △ | ◯ | △ | * |
C-2 |
在庫情報を持つ仕入先。 取引実績がないか、規定の取引回数に満たない |
○ | △ | ◯ | △ | * |
A-1(国内) |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
正規代理店、2次店もしくは「ひとつから」在庫。 メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が可能(メーカー事情により対応不可の場合あり) |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | * | * | * | * |
A-1(海外) |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
海外の正規代理店。メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が可能だが、メーカーにより一部対応不可の場合がある | ||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | * | * | * | * |
A-2 |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
正規代理店か2次店。 メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が不可 |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | * | * | * | * |
A-3 |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
価格設定が高めな2次店。 正規ルートによる自社在庫を保有している |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | * | * | * | * |
A-4 |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
コアスタッフ在庫。 代理店やセットメーカーから購入した余剰在庫 コアスタッフにて品質保証 万が一の不具合の場合、当社費用負担で提携検査機関にて不具合の解析を実施 |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | * | * | * | * |
B-1 |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
正規代理店ではない自社在庫の仕入先。 規定の取引実績がある認定仕入先 |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | △ | △ | * | * |
B-2 |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
在庫情報を持つ仕入先。 既定の取引実績がある認定仕入先 |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | △ | △ | * | * |
C-1 |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
自社在庫の仕入先。 取引実績がないか、規定の取引回数に満たない |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | △ | ◯ | △ | * |
C-2 |
||||
---|---|---|---|---|
詳細 | ||||
在庫情報を持つ仕入先。 取引実績がないか、規定の取引回数に満たない |
||||
目視 | マイクロ スコープ |
X線 | カーブトレーサー (IV特性) |
ICテスター (ファンクション) |
○ | △ | ◯ | △ | * |
○…抜き取り実施 △…状況に合わせて実施 *…実施しないがご要望に合わせて有料で実施
※抜き取り数は自社規定に準じて決定
【検査フロー】3重チェックにより徹底的に検査を実施

重点検査項目と対策
検査項目 | 詳細 | 使用する検査機器 | 症例画像 |
---|---|---|---|
リード酸化/腐食 | マイクロスコープにて検査 |
![]() ![]() スコープ |
![]() |
使用済品の混入 | マイクロスコープにて検査 |
![]() ![]() スコープ |
![]() |
書き込み済品の混入 | マイクロスコープにて検査 |
![]() ![]() スコープ |
![]() |
偽造品の混入 | マイクロスコープにて捺印、パッケージ表面の構造を確認 Ⅹ線にてリード構造、ワイヤーの配置・形状、チップ形状を確認 |
![]() ![]() スコープ ![]() ![]() ![]() テスター |
![]() |
チップ内部の腐食 | パッケージ開封を行い内部の観察 |
![]() ![]() スコープ |
![]() |
リード酸化/腐食 |
---|
マイクロスコープにて検査 |
使用する検査機器 |
![]() ![]() スコープ |
症例画像 |
![]() |
使用済品の混入 |
---|
マイクロスコープにて検査 |
使用する検査機器 |
![]() ![]() スコープ |
症例画像 |
![]() |
書き込み済品の混入 |
---|
マイクロスコープにて検査 |
使用する検査機器 |
![]() ![]() スコープ |
症例画像 |
![]() |
偽造品の混入 |
---|
マイクロスコープにて捺印、パッケージ表面の構造を確認 Ⅹ線にてリード構造、ワイヤーの配置・形状、チップ形状を確認 |
使用する検査機器 |
![]() ![]() スコープ ![]() ![]() ![]() テスター |
症例画像 |
![]() |
チップ内部の腐食 |
---|
パッケージ開封を行い内部の観察 |
使用する検査機器 |
![]() ![]() スコープ |
症例画像 |
![]() |